[分享] IC运营工程技术答疑群2020第13周经典回答
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 楼主 | 发布于 2020-09-14 | 只看楼主
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1.问题:

PLCC一类的封装一般MSL等级是按照哪个level测试?

 

回复:

一般是3,要想更有竞争力,可以考虑过Level2,但是成本会增加很多

 

 

2.问题:

有哪些CP测试机台是支持LVDS接口的??有没有具体的tester机台型号?

 

回复:

93K的平台可以支持LVDS接口的测试的。

 

 

3.问题:

WLCSP产品焊接到EVB上,芯片基准电压比ATE测试值偏了1%,植球后ATE复测,复测值与EVBmatch,请问焊接过程中导致基准偏离的因素有哪些,如果进一步分析优化?热风枪手焊发现的,第二次在WLCSP产品上发现这种问题了,可能与bump/应力相关。bench测试的时候没有带载,空载输出。3.3V上板后偏低至3.27,基本每一颗都差不多单调offset,测试的时候都不带载

 

回复:

封装厂出来的锡球自带电阻,这个电阻又不太好量,什么造成的也不知道。reflow一下可能又好了。。特别是reflow的时候上点助焊剂,可能有助于去除氧化层。可能是焊锡电阻偏大  整个地的回路,阻抗变大或者不稳定,reference voltage bench测试的时候还是有点点电流的。如果reference电流能力很弱的话,很容易被拉下来的。整体有电流,流过六位半,流过仪表的电流可能将你的整体电压拉下来了

 

 

4.问题:

电迁移(EM)里面RMSPeakrule的损坏机理和average有什么区别?

 

回复:

Peak EM:主要是因为某些模块突然启动或某个Clockdomain突然启动或加速,造成电流尖峰从而引起EM

RMS EM:针对的是有效电流做功,造成的EM现象

 

 

5.问题:

这个是锡须增长么?121°C100%湿度。同一个产品,uHAST85的湿度passPCT100湿度fail。其他产品的PCT也过了,就这个产品的PCT failX-ray发现,有异物桥连两个球。去球后量了一下芯片,pass的。所以fail很可能来自这个球的桥连处.X-ray看了几颗fail样品,都是同样的情况。然后照片就看见这个锡""出来导致桥连了。

 

                        

 

回复:

要作fa去看一下是什么机理,才可以对症下策。第一确认电性失效是否因为这个bridging现象,X-ray/om定位 2)机械剥离现失效点,做物理/化学离子能谱分析,SEM/EDX或许就可以。分析过程避免导致其他的handlingartifactsMolten solder没有内应力产生的锡须风险。如果没有电压差, 这个可能是SMT solder extrusion defect 或在PCTcreepcorrosion。板级的测试为何采用PCT?如果intended application 条件不是特别的,建议用uHAST取代。任何离子污染源包括fluxPCT水质, PCB板在湿度饱和凝聚的状态可能导致一些testartifacts。类似案例:hast failure due to dendritic growth. 原因是高Sulphur导致。分析手法SEM/EDAxroot causeflux

 

 

6.问题:

电动车和燃油车上装的汽车电子模块的供电上会有什么区别吗?供电方式上会有差异吗?比如如果是油电混合车的话在油电切换上会不会有一些电压的波动?

 

回复:

ev phev 和普通燃油车的供电差异不大,12/24 v。现在还有48V。可以参考ISO7637

 

 

7.问题:

现在有裸die WLCSP车规市场吗?

 

回复:

可以考虑eWLB. die WLCSP最大的concern就是机械强度和可靠性保护。车规大厂的solution,很多用在ADAS, 毫米波


 

 

8.问题:

是不是有种叫投影波纹技术的方法可以检测PCB扭曲。

 

回复:

Shadow Moire。测warpage的。有上升和回退的测量。参考JEDEC-B112.

 

 

9.问题:

LED镀锡后在进行SMT打件,过REFLOW后锡膏与材料镀锡面结合处出现发黑状况是什么情况造成吗?发黑区域EDX只有C, O, Sn三种元素成分。是焊接前 PAD有镀锡的。材料是正常过REFLOW的,炉温曲线都是正常260℃,材料是一批同时作业发现其中几颗有异常。

 


 

回复:

看看黑色物质是不是FLUX残留,需要看一下回流曲线,是否是高温造成残留物发黑。可能怀疑低温Flux没有在预热阶段挥发,在回流区被高温碳化,建议回流时做一个预热平台,增加低温Flux活性与挥发。Led打件时出现焊点发黑,数不多的话,需从三个方面分析,第一PCBPCB生产完毕镀锡时,PCB己污染,肯定夹杂了有机物,把失效焊点做切片有机物分析。第二,器件污染,也需要做有机物元素分析,第三点,锡膏和助焊制也会有问题,无铝焊炉温对焊点影响不大,发黑主要是含了有机物了。器件焊接时,焊点发黑我们以前做过PCB和锡膏和助焊剂的专项分析过,肯定一点,发黑确定是有机物污染,至于什么有机物要分析什么元素,花的米米成本比较高。可以先做下FTIRFTIR主要分析有机物的,可以看下是不是助焊剂残留,跟数据库比对。PCB生产最后一道工序剪板时也可能会污染。焊点发黑切片看看,排除冷焊,虚焊等问题对性能影响不大的情况,质量一般可以让步接收的。

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