【一颗数字电路没有明确的PN节如果我在我的die上面】 | 问答

2020-10-15 李正辉

【【经验分享】KL25 16位单端ADC最高转换频率下代码效率...】 | 论坛

2020-10-14 杜志国

【【经验分享】Kinetis IAR工程下无法打印浮点的问题解...】 | 论坛

2020-10-14 杜志国

<p style="color:#333333;font-family:-apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &quot;Helvetica Neue&quot;, &quot;PingFang SC&quot;, &quot;Hiragino Sans GB&quot;, &quot;Microsoft YaHei UI&quot;, &quot;Microsoft YaHei&quot;, Arial, sans-serif;font-size:17px;text-align:justify;background-color:#FFFFFF;"> WAT<span style="font-family:宋体;">：</span>Wafer Acceptance Test </p> <p style="color:#333333;font-family:-apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &quot;Helvetica Neue&quot;, &quot;PingFang SC&quot;, &quot;Hiragino Sans GB&quot;, &quot;Microsoft YaHei UI&quot;, &quot;Microsoft YaHei&quot;, Arial, sans-serif;font-size:17px;text-align:justify;background-color:#FFFFFF;"> CP<span style="font-family:宋体;">：</span>Chip Probing </p> <p style="color:#333333;font-family:-apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &quot;Helvetica Neue&quot;, &quot;PingFang SC&quot;, &quot;Hiragino Sans GB&quot;, &quot;Microsoft YaHei UI&quot;, &quot;Microsoft YaHei&quot;, Arial, sans-serif;font-size:17px;text-align:justify;background-color:#FFFFFF;"> PCM<span style="font-family:宋体;">：</span>ProcessControl Monitor </p> <p style="color:#333333;font-family:-apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &quot;Helvetica Neue&quot;, &quot;PingFang SC&quot;, &quot;Hiragino Sans GB&quot;, &quot;Microsoft YaHei UI&quot;, &quot;Microsoft YaHei&quot;, Arial, sans-serif;font-size:17px;text-align:justify;background-color:#FFFFFF;"> PCM=WAT，国内以前叫PCM<span style="font-family:宋体;">，境外叫</span>WAT<span style="font-family:宋体;">，名字不一样，事情是同样的。现在</span>PCM<span style="font-family:宋体;">比较少用，基本都用</span>WAT<span style="font-family:宋体;">。</span>PCM<span style="font-family:宋体;">或</span>WAT<span style="font-family:宋体;">是为了工艺监控而设定的一种测试，测试结构（</span>testkey<span style="font-family:宋体;">）都是为了工艺监控而特定设计的。早期工艺，这些测试结构都要占据几个芯片位置，一般是</span>9<span style="font-family:宋体;">个或</span>5<span style="font-family:宋体;">个芯片位置，随着工艺复杂，先进，芯片位置极其宝贵，这些测试结构就被安排在了无用的切割道中。</span>CP<span style="font-family:宋体;">是测试晶圆，测试芯片的性能。</span> </p>

回复：【WAT，CP，PCM 是些什么意思？】 | 问答

2020-10-14 杜志国

【【经验分享】AN2295 bootloader文档解析 一】 | 论坛

2020-10-13 杜志国

感谢分享

回复：【22套精选AD PCB工程文件，免费送给你！】 | 论坛

2020-10-13 杜志国

感谢分享

回复：【高压碳化硅器件进展及应用前景】 | 论坛

2020-10-13 杜志国

感谢分享

回复：【应用在防爆消防车内部电路板电火花检测中的紫外线二极管】 | 论坛

2020-10-13 杜志国

[图片]

回复：【22套精选AD PCB工程文件，免费送给你！】 | 论坛

2020-10-13 杜志国

【Delayer一般用什么设备，除了RIE还有什么建议吗？】 | 问答

2020-10-13 杜志国