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首页 论坛 原厂专区 TI MCU 金属箔式应变计性能——应变电桥
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实验目的:
1、观察了解箔式应变片的结构及粘贴方式。
2、测试应变梁变形的应变输出。
回复于 2018-07-29 11#
回复于 2018-07-30 12#
回复于 2018-07-31 13#
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