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横河高速光谱仪AQ6360助力激光器芯片测量
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针对激光芯片测试，横河推出了高速光谱仪AQ6360，在测量100nm跨度时只用0.2秒，并且配置了全新的触摸屏，还带有自动校正入射光的接口，方便用户完成日常维护的工作。结合横河的波长计、多通道信号源测量单元（SMU）以及多应用测量平台，可以简单便捷地搭建起一个激光器芯片和激光器模块的测量系统，满足市场需求。
更多产品介绍请看横河测试测量：https://tmi.yokogawa.com/cn/solutions/products/
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