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横河SUM FET的静态特性测试
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静态特性是半导体的重要参数，场效应晶体管（Field Effect Transistor缩写FET）的直流特性中，有VGS－ID和VDS－ID特性，是代表FET的输入和输出关系的基本特性。FET的静态测试需要半导体参数分析仪等专用设备以及电压源、电流计等多种测量设备。而通过使用GS820的可编程扫描功能，即可轻松实现三端半导体器件的静态特性的测量与分析。
使用GS820的通道1输出栅源电压Vgs，通道2输出漏源电压Vds同时测量漏电流，并自动生成记录文件。试验示意图如下所示：
使用表格软件编辑扫描文件，通过USB连接直接放入GS820的存储器，GS820即可读取设置的参数并扫描输出，并自动返回测量结果。
更多产品详情，请查看横河测试测量官网ht tps:/ /tmi.yokogawa.co m/c n/。
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