问：但你所介绍的许多电路都是用于直流或频率很低的精密测量，杂散电感和杂散 电容在这种应用中没有关系，对吗?

答：对。由于晶体管(不论是分立的晶体管还是集成电路内部的晶体管)都有很宽 的频带宽度，所以 当这种电路末端是电抗性负载时，在几百或几千兆赫频带内有时可能出现振荡。与振荡 有关系的偏移和整流作用对低频精度和稳定性都会有坏的影响。

更糟的是，这种振荡在示波器上可能看不到，这或者是由于示波器带宽与这种被测的高 频振荡带宽相比太低，或者由于示波器的探头的电容量足够停止这种振荡。最好的方法是采 用宽频带(低频至15 GHz以上)频谱分析仪来检验系统有没有寄生振荡。当输入在整个动态 范围变化时，应该做这种检查，因为寄生振荡有时出现在输入频带很窄的范围内。

问：对于电阻器的电阻还有些什么问题吗?

答：电阻器的电阻不是固定的，而是随温度变化的。温度系数(TC)从几个ppm /°C(每摄氏度百万分之一)变化到几千个ppm/°C。最稳定的电阻器是线绕电阻器或金属膜 电阻器，最差的电阻是合成碳膜电阻器。

大的温度系数有时很有用(以前的“应用工程师问答”中曾提到如何利用+ 3500 pp m/°C电阻器来补偿结二极管特性方程中的kT/q)。但一般说来电阻随温度变化可能成为精密 电路中的一项误差源。

如果电路的精度取决于具有不同温度系数的两个电阻器的匹配，那么在一个温度条件下 不论匹配得多么好，在另一个温度条件下都不会匹配。即使两个电阻器的温度系数匹配，也 不能保证它们保持在相同的温度。由内部功耗产生的自热或从系统某一热源传导的外部热量 都 会造成温度的失配，从而产生电阻。即使是高质量的线绕电阻器或金属膜电阻器受温度影响 产生 的失配误差也有几百个(或者甚至几千个)ppm／℃。显而易见的解决方法是使用的两个电阻 器在制造时使 它们都非常靠近同一个基体，这样不论什么时候都能很好地达到系统精度匹配要求。这种基 体 可以是精密模拟集成电路的硅片，或者玻璃片或者金属薄膜。无论是哪种基体，这两个电阻 器在制造期间都匹配得好，具有匹配优良的温度系数，而且处于几乎相同的温度(因为它 们非常靠近)。

问：在对数电路设计中，常使用AD538实时模拟计算单元(ACU) ，其中需要“kT/q补偿电阻”。请解释一下?

答：AD538的接线方法如图138所示，V BE 是硅二极管PN结两端间的电压， 等于(kT/q)ln(I/I REF )，其中I为PN结二极管的电流， I REF 为反向饱和电流， k/q为玻尔兹曼常数与一个电子电荷电量之比(约为1/11605 K/V)，T为开氏绝对温度。 虽然使用相似的等温结对来消除反向饱和电流受温度的影响，但是温度电压当量kT/q仍 与温度有关。为消除应用中这种温度依赖性，必须在增益与PN结

图138 AD533接线图

的绝对温度成反比的电路中 采用对数电压。在20°C附近的合适温度范围内，在上述电路中选用1 kΩ增益电阻，可得到 大约3 400 ppm/°C的正温度系数。

美国Tel Laboratories 和 Precision Resistor CoInc 可提供温度系数约3 500 p pm/°C的电阻。