抑制干扰的对策：

  1. 使用高共摸抑制比、高串模抑制比、高共模耐压测试设备。

  2. 测试电路与内部电路的绝缘方式（光电耦合绝缘最佳）。

  3. 采用积分型A/D,在对模拟量进行A/D转换时，先对模拟信号进行积分运算。

  4. 针对不同工频干扰频率，设定合适测量周期。

  5. 同时使用一阶低通滤波与A/D积分的方式。

  6. 区别于常规扫描型模块，独立A/D测试模块能有效去除通道切换造成的影响。

  7. 热电偶前端与被测点绝缘能有效抑制共摸干扰。

  8. 热电偶线采用双绞屏蔽线、采用电磁屏蔽措施。

  9. 使用温度变送器（4mA-20mA输出）、外置滤波电容等。

  运用上述方法尤其要注意一点：测试电路与记录仪内部电路之间，通过光电耦合绝缘，可以大幅度减低从传感器来的共模干扰，即使不慎在传感器上加了高压，也不至破坏记录仪,或对操作人员造成伤害！

  此外还需注意：如果干扰信号频率和A/D积分周期不匹配，干扰影响无法只通过“积分”去除，可同时使用A/D积分和干扰滤波去除干扰影响。

  干扰问题往往很难一下拿出明确解决方案，要根据干扰的种类对症下药，因此分析干扰的成因和进行多种经验性尝试都是很重要的。