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PCB 可测性设计
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# HIJ测试时存在的问题
以往 HIJ设计所关心的主要是逻辑功能N速度N时间匹配和电性能参数L由于集成技
术的发展L元器件的密度越来越大L被测电路越来越复杂L规模越来越大L因此L在检测N
测试和故障诊断时遇到了难以克服的困难L特别是在脱离系统N使用 QPR进行功能检测
和故障诊断时显得尤为突出 M
*#,接口不规范 M不同的 HIJ根据各自的需要使用不同的接口L从需求的角度看没有
不妥之处O但从可测性的要求看L希望无需转接L使用 QPR就能够对其进行检测N测试和
故障诊断 M目前L由于接口不规范N不标准L造成其检测N测试和故障诊断时的诸多不便L
因此L接口不标准是限制 QPR广泛应用的主要问题 M
*!,结构设计不合理(由于设计时技术指标是主要的考虑因素L测试和维修的需要较
少顾及L因此LHIJ普遍存在缺少必要的中间测试点和控制点L有些器件由于种种原因安
装在 HIJ之外L造成在使用 QPR对其进行测试时极不方便 M使用反馈回路时L也没有采
取必要的措施L甚至采用外部反馈回路L这都给检测N测试和故障诊断带来困难 M
K 收稿日期B!"""D"ED!E
作者简介B张宏伟*#_E_‘,L男L讲师(从事专业B雷达工程(! "#$可测性设计的一般要求
可测性设计是指一切能使测试生成和故障诊断变得容易的设计%是电路本身的一种设
计特性%是提高可靠性和维修性的重要保证%包括可控性和可观测性 &
对于 "#$的可测性要求是’在系统中实现易检测和故障诊断(在使用 )*+测试时%
易实现测试生成和故障诊断 &因此%要求在其研制设计阶段的电路必须是易测的 &通常%
易测电路需具备 ,个特点’-./电路很容易置成所需要的初态(-!/电路的内部状态要很
容易用测试模式从电路的初级输入控制(-,/电路的内部状态要很容易通过电路的初级输
出或者利用专门的测试点唯一识别 &
"#$可测性设计是为使其检测0测试和故障诊断变得容易0可控而采取的有效手段%
应包括两个方面的内容’结构的标准化设计和应用新的测试技术 &
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